<![CDATA[Pembuatan bahan konduktor padat telah dilakukan dengan cara mencampurkan CuI dan AgI. Kedua bahan dibuat dalam bentuk pelet dan dipanaskan pada suhu 300 oC selama 3 jam. Pengukuran konduktivitas (CuI)x((AgI)1-x dilakukan dengan alat LCR-meter pada frekuensi 0,1 Hz sampai 100 kHz dan sebagai fungsi suhu. Penentuan struktur kristal (CuI)x((AgI)1-x dan regangan kisi dilakukan dengan difraksi sinar-X. Hasil penelitian menunjukkan regangan kisi konduktor padat (CuI)x((AgI)1-x turun seiring dengan naiknya fraksi berat CuI. Puncak difraksi sinar-X untuk konduktor padat (CuI)x((AgI)1-x menunjukkan puncak-puncak CuI, sedangkan puncak-puncak AgI tidak tampak. Konduktivitas konduktor padat (CuI)x(AgI)1-x naik seiring dengan naiknya suhu pemanasan. Energi aktivasi naik seiring dengan bertambahnya konsentrasi CuI. ]]>
Copyrights © 2011
