Article Per Year (5 Year)
p-Index From 2019 - 2024
0
P-Index
This Author published in this journals
All Journal JURNAL STANDARDISASI Instrumentasi
Jimmy pusaka
Puslit KIM-LIPI Gedung 420 Kompleks Puspiptek Serpong, Tangerang Selatan 15314
Control & Systems Engineering Education Electrical & Electronics Engineering Physics

Published : 4 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 4 Documents
Search

 1 
Analisis Isi ISO/IEC 17025 bagi laboratorium metrologi pusaka, Jimmy
JURNAL STANDARDISASI Vol 13, No 1 (2011): Vol. 13(1) 2011
Publisher : Badan Standardisasi Nasional

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar

Abstract

.
ANALISIS LANJUTAN TERHADAP ISO 1101 PADA BAGIAN KERATAAN PERMUKAAN Pusaka, Jimmy
JURNAL STANDARDISASI Vol 14, No 1 (2012): Vol. 14(1) 2012
Publisher : Badan Standardisasi Nasional

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar

Abstract

Di satu sisi sejumlah standar yang beredar bagi suatu perangkat kerja metrologi, termasuk untuk meja rata,membahas secara terperinci tentang toleransi bagi perangkat kerja tersebut, tetapi metode analisis tentangpenyimpangannya amat minim. Di sisi lain, terdapat beberapa analisis penyimpangan dari kondisi ideal yangcukup mendalam, seperti untuk toleransi kelurusan. Untuk mendalami metode analisis penyimpangan kerataanbagi meja rata, dalam makalah ini dibahas adopsi metode analisis penyimpangan kelurusan untuk diterapkanpada pengukuran kerataan meja rata. Diperoleh jawaban bahwa metode-metode analisis tersebut memberi hasilyang berbeda satu sama lain. Dengan menggunakan metode distorsi sederhana yang kemudian diverifikasidengan menggunakan data tipikal, diperoleh metode analisis penyimpangan kerataan permukaan yang baik.
UPAYA METROLOGIS UNTUK PENINGKATAN LABORATORIUM PRAKTIK MAHASISWA SEBAGAI PENYEDIA JASA KALIBRASI Basuki, Budhy; Pusaka, Jimmy
JURNAL STANDARDISASI Vol 15, No 3 (2013)
Publisher : Badan Standardisasi Nasional

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar

Abstract

Semakin bertumbuhnya perekonomian yang ditandai dengan peningkatan aktivitas industri dan perdagangan di Kalimantan khususnya di provinsi Kalimantan Barat dan Kalimantan Timur, belum diikuti oleh kemampuan layanan jasa kalibrasi yang dapat diakses oleh pihak industri yang memerlukannya. Untuk itu telah dilakukan penelitian tentang kebutuhan layanan jasa kalibrasi dari pihak industri di kedua wilayah tersebut, dan potensi laboratorium yang ada untuk dikembangkan menjadi laboratorium kalibrasi yang dapat memenuhi kebutuhan tersebut. Penelitian kemungkinan pengembangan ini diarahkan ke laboratorium yang digunakan untuk praktik pengukuran bagi mahasiswa teknik di sejumlah perguruan tinggi dengan memperhatikan faktor sarana, prasarana, sdm, dan dokumen pendukung. Sebagai hasil, tercatat dua laboratorium perguruan tinggi yang memiliki potensi untuk dikembangkan lebih lanjut menjadi laboratorium kalibrasi berdasarkan standar ISO/IEC 17025.
KETERSEDIAAN DAN KEBUTUHAN PERANGKAT UKUR NANO DI INSTITUSI PUSAT PENELITIAN ILMU PENGETAHUAN DAN TEKNOLOGI (PUSPIPTEK) Febrian, Rizki; Nugraha, Asep Ridwan; Pusaka, Jimmy
Instrumentasi Vol 39, No 2 (2015)
Publisher : LIPI Press, Anggota IKAPI

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (520.642 KB) | DOI: 10.14203/instrumentasi.v39i2.94

Abstract

Secara luas, terminologi nanoteknologi berarti bidang sains dan rekayasa material di dalam rentang ukur nanometer (10-9 meter). Di dalam rentang ukur tersebut bisa diamati properti dari material yang selama ini tidak diketahui dalam rentang mikrometer–nanometer (μm–nm). Oleh karena itu, perangkat-perangkat ukur yang akurat pun dibutuhkan. Survei dilakukan melalui kuesioner tentang perangkat ukur pada institusi yang ada di kawasan Puspiptek dan lembaga metrologi nasional di negara lain sebagai informasi pembanding. Perangkat ukur dengan jumlah penggunaan yang tinggi di Puspiptek adalah scanning electron microscopy (SEM) sebesar 39,24%, X-ray diffraction (XRD) sebesar 14,75%, dan transmission electron microscopy (TEM) sebesar 14,12%. Digunakan pada kegiatan rekayasa presisi, elektronik, optik, dan ilmu bahan, perangkat ukur ini memiliki standar acuan berupa reference material berdasarkan cara kerja perangkat ukur tersebut.
Co-Authors Budhy Basuki Febrian, Rizki Nugraha, Asep Ridwan