Lisa’ Yihaa Roodhiyah
Jurusan Fisika, Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam, Universitas Gadjah Mada, Yogyakarta 55281, Indonesia

Published : 1 Documents Claim Missing Document
Claim Missing Document
Check
Articles

Found 1 Documents
Search

Perhitungan Konstanta Dielektrik Lapisan Tipis Graphene Monolayer Si-Face Hasil Pengukuran Synchrotron dengan Metode Kramers-Kronig dan Newton-Raphson (Halaman 49 s.d. 53) Lisa’ Yihaa Roodhiyah; Andrivo Rusydi; Iman Santoso
Jurnal Fisika Indonesia Vol 19, No 56 (2015)
Publisher : Department of Physics Universitas Gadjah Mada

Show Abstract | Download Original | Original Source | Check in Google Scholar | Full PDF (1151.983 KB) | DOI: 10.22146/jfi.24360

Abstract

Telah dilakukan perhitungan konstanta dielektrik nanostruktur epitaxial graphene monolayer pada substrat Si-face SiC dari hasil pengukuran data reflektivitas dengan metode Kramers-Kronig dan Newton-Raphson. Data yang digunakan yaitu data reflektivitas pada rentang energi 0.5 – 30 eV dari pengukuran di Hasylab Synchroton. Metode Kramers-Kronigmenghasilkan beda fase δ dan dengan menggunakan persamaan Fresnel dan persamaan Snelliusdigunakan untuk mengekstraksi konstanta dielektrik. Permasalahan pencarian titik nol dalam persamaan Fresnel ketika mengekstraksi konstanta dielektrik dapat diselesaikan dengan metode numerik Newton-Raphson. Hasil yang diperoleh menunjukkan beberapa hal penting : 1) metode Kramers-Kronig dan numerik Newton-Raphson dapat digunakan untuk mengekstraksi konstanta dielektrik graphene monolayer Si-face, 2) adanya puncak absorbsi asimetri pada energi 4,6, 6,1 dan 8,4 eV ditinjau dari bagian imajiner konstanta dielektrik dan indeks bias, 3) puncak pada energi 6,1 dan 8,4 eV berasal dari resonansi exitonic akibat adanya interaksi elektron-elektron dan elektron-hole dan puncak pada energi 4,6 eV berasal transisi antar pita (interband) dari π band ke π* band yang dimiliki material graphene monolayer.