<![CDATA[Salah satu perangkat elektronika yaitu IC (integrated circuit) yang akan digunakan untuk keperluan-keperluan perakitan sistem elektronika yang lebih kompleks, harus sudah dipastikan bahwa device tersebut berfungsi dengan benar sesuai dengan spesifikasinya dengan melakukan berbagai macam pengujian. Salah satu alat yang digunakan untuk menguji perangkat elektronika adalah Automated Test Equipment (ATE). Semakin pesatnya perkembangan teknologi IC yang ada menuntut ATE yang lebih handal untuk pengujian perangkat elektronika tersebut, akan mendorong industri yang bergerak dalam bidang tersebut untuk menyesuaikan serta mengembangkan ATE yang ada. Salah satu solusi yang dapat diaplikasikan adalah pengembangan serta integrasi stand alone modul pada ATE komersial yang sedang digunakan untuk memenuhi kebutuhan pengujian dari customer. Salah satu ATE yang masih banyak digunakan yaitu ASL 1000 Test System. Salah satu keterbatasan dari ASL 1000 adalah jumlah vector pattern memory yang ada, yaitu pada modul yang disebut dengan Digital Driver and Detector (DDD). Berdasarkan pengamatan pada instrumen DDD, dapat dirancang sebuah stand alone modul yang memiliki kemampuan seperti DDD dengan menggunakan komponen Field Programmable Gate Array (FPGA). Pada rancangan stand alone modul digital, digunakan rangkaian pendukung lainnya yaitu interface antara FPGA dengan PC menggunakan interface RS-232 serta interface antara FPGA dengan device under test (DUT) menggunakan ASIC sebagai ATE drivers or comparators. Hasil penelitian menunjukkan bahwa modul rancangan dapat menerima dan mengirim 8-bit data pada baudrate 17200, menulis dan membaca 16-bit data pada SDR SDRAM selama 90 ns dan 80 ns untuk satu siklus, membangkitkan tegangan pada DAC tipe AD5308 dengan operasi stand alone, membangkitkan tegangan pada DAC tipe AD5676 dengan operasi daisy chain, dan mengontrol channel pada IC pin electronics tipe MAX19005. Pada simulasi behavioral, modul main controller yang dirancang telah bekerja sesuai dengan spesifikasi yang telah ditentukan. Kata Kunci : Automated Test Equipment, Digital Driver and Detector, Field Programmable Gate Array]]>
Copyrights © 2017
