VALENSI
Jurnal Valensi Volume 1, No.3, November 2008

Karakteristik Beberapa Jenis Antibiotik Berdasarkan Pola Difraksi Sinar-X (XRD) Dan Spektrum FTIR

Mirzan T Razzak (Program Studi Kimia Fakultas Sains dan Teknologi UIN Syarif Hidayatullah Jakarta)
Sandra Hermanto (Program Studi Kimia Fakultas Sains dan Teknologi UIN Syarif Hidayatullah Jakarta)
Priyambodo Priyambodo (Program Studi Fisika Fakultas Sains dan Teknologi UIN Syarif Hidayatullah Jakarta)



Article Info

Publish Date
01 Nov 2008

Abstract

Telah dilakukan pengukuran karakteristik difraksi sinar-x (XRD) terhadap beberapa jenisantibiotik. Penelitian ini bertujuan untuk memahami karakteristik difraksi sinar-x suatuantibiotik sebagai upaya untuk identifikasi antibiotik secara cepat. Dalam penelitian ini diamatikarakteristik difraksi sinar-x dari 15 (lima belas) antibiotik yang tersedia di pasaran. SpektrumXRD diukur pada sudut 2 antara 5 – 75 untuk dibandingkan dan dievaluasi mengenai bentukkristalnya. Selanjutnya diukur pula spektrum XRD dari pencampuran antibiotik dengan tepungtapioka. Pengukuran spektrum infrared dengan FTIR juga dilakukan untuk menguji konsistensihasil evaluasi spektrum XRD. Hasil penelitian menunjukkan bahwa amoxicillin dan ampicillinmempunyai struktur kristal yang sama, yaitu orthorombic primitif. Sayangnya baik XRDmaupun FTIR, tidak memberikan nilai kuantitatif pada antibiotik. Oleh sebab itu, perbedaankonsentrasi dengan pencampuran tepung tapioka tidak dapat dideteksi. Walaupun demikian,metode ini terbukti dapat digunakan untuk membedakan komposisi zat penyusun antibiotiksecara cepat dan akurat.

Copyrights © 2008






Journal Info

Abbrev

valensi

Publisher

Subject

Chemistry

Description

Jurnal Kimia Valensi is a biannual and peer-reviewed open access journal published by Department of Chemistry, Faculty of Science and Technology UIN Syarif Hidayatullah Jakarta. This journal covering all aspect of ...