JAIS (Journal of Applied Intelligent System)
Vol 1, No 1 (2016): Februari 2016

Sistem Pakar Kerusakan Mesin Jahit dengan Metode Certainty Factor Berbasis Android

Andri Saputra (Program Studi Teknik Informatika, STMIK PalComTech Palembang)
Hengki Andrea Taman (Program Studi Teknik Informatika, STMIK PalComTech Palembang)



Article Info

Publish Date
18 Feb 2016

Abstract

Mesin jahit adalah peralatan mekanis atau elektromekanis yang berfungsi untuk menjahit. Pada saat ini khususnya dalam bidang keterampilan seperti membuat sebuah pakaian, salah satu alat yang digunakan ialah mesin jahit. Namun setiap orang menggunakan mesin jahit secara terus-menerus dapat menyebabkan kerusakan pada mesin jahit. Dari permasalahan tersebut dibuat sebuah sistem pakar kerusakan mesin jahit dengan metode certainty factor berbasis android. Sistem pakar kerusakan mesin jahit berbasis android ini dibuat sebagai alat bantu untuk mempermudah masyarakat dalam mengetahui kerusakan mesin jahit, apalagi saat ini sudah banyak yang menggunakan smartphone sehingga masyarakat sangat mudah berinteraksi secara langsung dengan aplikasi untuk mengetahui jenis kerusakannya dan cara memperbaikinya. Penelitian ini menggunakan metode certainty factor dengan metode tersebut pengguna dapat mengetahui tingkat kepastian kerusakannya. Aplikasi sistem pakar berbasis android ini dapat menjadi sarana untuk mengetahui secara cepat tentang kerusakan mesin jahit dan cara memperbaikinya tanpa harus datang langsung ke pakarnya. Penerapan metode certainty factor sangat baik digunakan pada sistem pakar diagnosa kerusakan mesin jahit sehingga dapat diketahui hasil tingkat kepastian diagnosa kerusakan mesin.   Kata Kunci : Mesin Jahit, Sistem Pakar, Certainty Factor, Android, Smartphone.

Copyrights © 2016






Journal Info

Abbrev

JAIS

Publisher

Subject

Description

Journal of Applied Intelligent System (JAIS) is published by LPPM Universitas Dian Nuswantoro Semarang in collaboration with CORIS and IndoCEISS, that focuses on research in Intelligent System. Topics of interest include, but are not limited to: Biometric, image processing, computer vision, ...