<![CDATA[AbstrakTujuan penelitian ini adalah untuk mengetahui struktur kristal, morfologi permukaan kristal, dan komposisi kimia bahan kristal semikonduktor Sn(S0.6Te0.4) yang dipreparasikan dan ditumbuhkan menggunakan metode Bridgmann. Pada penelitian ini dibuat tiga sampel dengan variasi massa bahan. Massa bahan yang digunakan pada sample pertama sejumlah 1,996 gram, sampel kedua 2,003 gram dan sampel ketiga 2,010 gram. Dalam penelitian ini suhu yang digunakan untuk pemanasan ketiga sampel adalah sama yaitu mulai dari 280C, 3000C selama 2 jam, dan 6000C selama 6 jam. Sifat-sifat kristal Sn(S0.6Te0.4) hasil preparasi dikarakterisasi menggunakan XRD untuk mengetahui struktur kristal, SEM untuk mengetahui morfologi permukaan kristal dan EDAX untuk mengetahui komposisi kimia kristal. Hasil karakterisasi XRD menunjukkan bahwa kristal Sn(S0.6Te0.4) yang terbentuk merupakan polikristal dengan stuktur Orthorombik. Parameter-parameter kisi sampel pertama adalah a = 4,426 Å, b = 11,151 Å dan c = 3,959 Å, untuk sampel kedua adalah a = 4,273 Å, b = 11,134 Å dan c = 3,934 Å, sedangkan untuk sampel 3 adalah a = 4,286 Å, b = 11,134 Å dan c = 4,059 Å. Hasil analisis SEM menunjukkan bahwa kristal Sn(S0.6Te0.4) adalah homogen. Sedangkan hasil analisis EDAX memperlihatkan kristal Sn(S0.6Te0.4) mempunyai komposisi kimia Sn, S dan Te dengan perbandingan molaritas 1 : 0,57 : 0,42Kata kunci : teknik bridgmann, struktur kristal, morfologi permukaan, komposisi kimia, kristal Sn(S0.6Te0.4)AbstractThe purpose of this study was to determine the crystal structure, crystal surface morphology, and chemical composition crystal of the semiconductor cryetal material Sn(S0.6Te0.4) which was preparation and grown by using Bridgman method. There were three samples were made with material mass variation. Material mass that was used in the first sample was 1,996 grams, the second sample was 2,003 grams and the third sample was 2,010 grams. The temperature used in this research to the sample were heated from 280C, 3000C during 2 hours, and 6000C during 6 hours. The properties of crystaline Sn(S0.6Te0.4) were characterized by using XRD to determine the crystal structure, SEM to determine the crystal surface morphology and EDAX to determine the chemical composition. The result XRD characterization showed that crystal Sn(S0.6Te0.4) was a polycristalline whit structured orthorhombic structure. The lattice parameters of the first sample were a = 4,426 Å, b = 11,151 Å and c = 3,959 Å, the second sample were a = 4,273 Å, b = 11,134 Å and c = 3,934 Å, and the hird sample were a = 4,286 Å, b = 11,134 Å and c = 4,059 Å. The result SEM analysis showed that crystal Sn(S0.6Te0.4) was homogeneous. The EDAX analysis shows crystal Sn(S0.6Te0.4) has chemical compositions of Sn, S and with molar ratio 1: 0,57: 0,42Keywords: Bridgmann method, crystal structure, surface morphology, chemical composition, crystal Sn(S0.6Te0.4)]]>
Copyrights © 2016
