JFA (Jurnal Fisika dan Aplikasinya)
Vol 9, No 2 (2013)

Analisis Pola dan Ukuran Bulir Spekel menggunakan LSI (Laser Speckle Imaging) pada Lapisan Tipis TiO2

Muchlian, Meli (Universitas Andalas, Padang)
Dahlan, Dahyunir (Universitas Andalas, Padang)
Harmadi, Harmadi (Universitas Andalas, Padang)

Article Info

Publish Date
13 Jun 2013

Abstract

Metoda LSI telah menghasilkan citra pola spekel sampel lapisan tipis TiO2. Analisis pola spekel dan ukuran bulir spekel program pencitraan autokorelasi Matlab 7 digunakan untuk melihat perubahan yang terjadi pada sampel lapisan tipis TiO2 akibat pengaruh variasi suhu pemanasan (100, 150 dan 200C). Ukuran bulir spekel lapisan tipis TiO2 semakin meningkat akibat kenaikan suhu pemanasan pada jumlah pelapisan yang sama. Hasil olah pola spekel memperlihatkan ukuran bulir spekel terkecil yang dapat hitung adalah 45 μm dan bulir lapisan tipis TiO2 tersebar semakin merata akibat penambahan suhu pemanasan.

Copyrights © 2013




Citation Download
RIS
EndNote, Reference Manager, ProCite
BibTex
Latex, Jabref
Full PDF
1136.561 KB
Original Source
Download Original
Google Scholar
Check in Google Scholar
Journal Info
JFA (Jurnal Fisika dan Aplikasinya)
Website

Abbrev

jfa

Publisher

Institut Teknologi Sepuluh Nopember Surabaya

Subject

Physics

Description

JFA (Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Abbreviation: J.Fis. dan Apl.) hanya menerbitkan artikel penelitian asli serta mengulas artikel tentang topik seputar bidang fisika (fisika teori, material, optik, instrumentasi, geofisika) dan aplikasinya. Naskah yang dikirimkan ke JFA belum pernah diterbitkan ...